検査・測定業界
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検査・測定マイクロスコープ
- 外観や寸法の検査をする装置。数千倍の拡大レンズを使用する際には、わずかな振動でも画像に大きな影響を与えるため、剛性が必要とされる。
- 高い剛性により、外乱振動の影響を低減！
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- NV・HV・SV
- NV、HVは従来品と比較してローラーピッチが小さく、ローラー接触長が大きいため高剛性が得られる。外乱振動を低減させることが可能。
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検査・測定レーザー振動計
- 対象物にレーザーを当て、跳ね返ったレーザーを測定することにより、対象物の振動を測定する装置。精密な位置決めにより、微細な部品を正確にスキャニングする。
- 軽く滑らかな動きで、精密なスキャンを実現
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- NVW・HVW・SVW
- 高精度、高剛性に加え、軽く滑らかな動きが特長。微細な制御への追従性に優れる。
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検査・測定ナノインデンター
- 試料表面にダイヤモンド製圧子を押込み、硬度やヤング率など機械的特性を評価する装置。
- 高い剛性で評価をより正確に！
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- NVW・HVW・SVW
- NV、HVは従来品と比較して高剛性のため、押し込み試験時の不要な変位を低減し、正確な試験が可能になる。
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検査・測定ラマン分光計
- 物質の分子構造や物性を評価する分光装置。試料台の剛性や位置決め精度が、ラマンマッピング評価の分解能向上に繋がる。
- 分解能向上に貢献する高精度案内
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- NV・HV・SV
- スライドウェイは極めて滑らかな動きのため、微小送りにも正確に追従し、高精度位置決めが可能。さらなる分解能の向上に貢献。
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検査・測定電子走査顕微鏡
- 電子線を使って試料の表面を観察する顕微鏡。電子線への悪影響を防ぐために真空環境や非磁性に対応できる部品で構成する必要がある。
- 非磁性・真空対応でSEMの高精度測定を支える
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- NV・HV・SV
- 真空環境に対応するオールステンレス仕様はもちろん、非磁性材料への変更も可能。磁性や空気の影響を受けずに安定した高精度測定ができる。
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検査・測定ギア雲台
- カメラの画角を変更する際に、向き・角度を調整する機構。
- 望遠レンズ等の精密な角度調整に最適
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- RV・RVF
- 従来のすべり方式での角度調整に比べ、すき間を必要としない転がり方式のためテーブルのガタつきを防止する。
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検査・測定X線回折装置試料台
- X線を照射することで試料の結晶構造や分子構造を調べる装置。正確な角度調節が必要。
- 転がりだから実現できる精密な角度調整
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- RV・RVF
- 他社のすべり方式と比べ、すきまを必要としない転がり方式のため、試料台のガタつきを防止する。高精度が必要な光学機器・計測機器に最適。
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検査・測定打鍵検査機
- シンセサイザーの鍵盤位置と打鍵力を検査する装置。同時に複数個所を検査するためにコンパクト化が重要になる。
- コンパクト外筒による多連配置で検査効率UP
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- SSP-AM
- 業界随一のコンパクトな外筒により、多連使いに最適。トルク負荷を受けることができるため、回り止めとしても活用が可能。
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検査・測定万能試験機
- 材質の機械的特性を確認する時や、圧縮による破壊試験等で使用する装置。卓上タイプから大型のものまで様々ある。
- 業界No1の豊富なラインナップ！
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- SM・GM
- 豊富なラインナップで、装置のニーズに合わせた選択ができる。
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検査・測定リニアゲージ
- 測定物の寸法や変位を測る装置。測定誤差の原因になるため、可動部のガタつきがないことが求められる。
- すきまゼロで高精度測定を実現
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- SM＋SN
- FITシリーズ（すきま管理品）選択により、シャフトとセットでの狙ったすきまに対応可能。
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検査・測定基板検査装置
- 表面実装された電子基板を検査する装置。数十ミクロンの微細な配線も存在し、より高精度な動きが求められている。
- 工数削減。直交ロボットで精密検査
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- BG
- 繰り返し位置決め精度±1μmを保証し、微細な検査にも対応可能。単軸アクチュエータを組み合わせた直交ロボットで、設計工数・組立工数を大幅に削減可能。
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